艾博纳原子力显微镜(ABN-AFM-001)是一款领先的高分辨率表面分析工具,专为精确研究样品表面结构设计。凭借其纳米级的超高分辨率,艾博纳原子力显微镜可以提供极为详细的表面信息,广泛应用于材料科学、纳米技术、生物学以及半导体行业等领域。其多种扫描模式和精密操控系统使得它能够轻松应对不同样品的复杂结构和特性分析。
这款显微镜支持接触模式和轻敲模式,能够根据样品的硬度和性质调整工作方式,尤其适用于硬度较高或较脆弱的样品。轻敲模式可以有效减少对样品的损伤,使其成为软性或生物样品研究的理想选择。艾博纳原子力显微镜还具有三维成像能力,能够呈现清晰的样品表面三维形貌,帮助用户更加深入地理解表面特征和微观结构。除了高分辨率成像和多模式扫描,这款显微镜还具备非接触操作方式,在进行软性材料或生物样品的观察时,能够在不接触样品表面的情况下完成测量,有效减少物理损害,确保样品保持其原始状态。
艾博纳原子力显微镜不仅适用于固体样品,也能兼容液体和薄膜样品,具有广泛的适用性。无论是用于纳米尺度的结构分析,还是对材料表面性质的研究,它都能够提供精确的数据支持。此外,仪器的操作环境要求温度在18℃至25℃之间,湿度不超过60% ,能够确保稳定运行并提供高质量的数据。
技术参数
1、扫描模式:接触模式、轻敲模式
2、扫描范围: X-Y方向: 70μm × 70μm Z方向: 17μm
3、空间分辨率: X-Y方向: ≤1nm Z方向: ≤0.1nm(亚纳米级高度分辨率)
4、扫描速度: 最高10Hz,提供快速扫描能力。
5、探针类型: 标准硅探针(Si Probe),弹簧常数:0.01N/m至40N/m,适应不 同样品。
6、样品尺寸: 最大尺寸:15mm × 15mm 最大厚度:2mm
7、噪声水平: X-Y方向: ≤0.01nm RMS Z方向: ≤0.05nm RMS
8、扫描头: 高精度压电陶瓷扫描头,带闭环控制。
9、操作环境: 温度:18℃至25℃ 湿度:≤60%
10、数据采集与分辨率: 图像分辨率:512×512至2048×2048像素,高分辨率清晰呈现样品细 节。
11、控制软件与接口: 直观GUI界面,支持USB或以太网接口,确保数据传输稳定。
12、电源要求: 支持220V/50Hz或110V/60Hz电源输入。
• 超高分辨率:纳米级分辨率,精确观察样品表面结构。
• 多模式扫描:支持多种扫描模式。
• 三维成像:提供样品表面三维形貌图,细节清晰。
• 非接触操作:减少对样品的损伤,适合软材料和生物样本。
• 精密控制:原子级操控精度,能够实现高精度表面分析。
• 兼容多种样品:适用于固体、液体和薄膜等多种样品类型。
1. 材料科学:二维材料、薄膜材料、纳米结构表面形貌与粗糙度分析。
2. 半导体与微电子:晶圆表面缺陷检测、器件结构分析。
3. 生命科学:细胞、生物大分子、生物膜的纳米结构表征。
4. 化学与能源:催化材料、电极材料表面结构研究。
5. 高校教学与科研:纳米技术与表面科学实验教学与研究。
1、扫描模式:接触模式、轻敲模式
2、扫描范围:
X-Y方向: 70μm × 70μm
Z方向: 17μm
3、空间分辨率: X-Y方向: ≤1nm
Z方向: ≤0.1nm(亚纳米级高度分辨率)
4、扫描速度: 最高10Hz,提供快速扫描能力。
5、探针类型:
标准硅探针(Si Probe ),弹簧常数:0.01N/m至40N/m,适应不同样品。
6、样品尺寸:
最大尺寸:15mm × 15mm
最大厚度:2mm
7、噪声水平:
X-Y方向: ≤0.01nm RMS
Z方向: ≤0.05nm RMS
8、扫描头: 高精度压电陶瓷扫描头,带闭环控制。
9、操作环境:
温度:18℃至25℃
湿度:≤60%
10、数据采集与分辨率:
图像分辨率:512×512至2048×2048像素,高分辨率清晰呈现样品细节。
11、控制软件与接口:
直观GUI界面,支持USB或以太网接口,确保数据传输稳定。
12、电源要求:
支持220V/50Hz或110V/60Hz电源输入。

硒化钴的光学成像图和AFM扫描图
类型 | 定位 | 技术特征 | 应用案例 |
标准科研型原子力显微镜(AFM-R) | 面向常规科研与材料表征需求,兼顾成像性能与系统稳定性,适用于绝大多数纳米尺度表面形貌与力学测试实验。 | · 支持接触模式、轻敲模式、非接触模式 · 纳米级横向分辨率,亚纳米级高度分辨率 · 闭环扫描控制,成像重复性好 · 适用于空气及可选液体环境 | · 二维材料表征:测量石墨烯、MoS₂、WSe₂ 等二维材料的层数、高度台阶与表面粗糙度 · 薄膜材料研究:分析溅射膜、蒸发膜的均匀性与表面形貌 · 纳米结构分析:观察纳米颗粒、纳米线的尺寸分布与排列状态 · 高校科研实验:用于材料、物理、化学相关方向的日常纳米表征实验 |
高分辨率科研型原子力显微镜(AFM-HR) | 面向高端科研需求,强调极高的成像分辨率与系统低噪声性能,适合原子级或近原子级结构研究。 | · 超低噪声扫描系统 · 高稳定性探针与扫描头结构 · 优化的振动隔离与温漂抑制设计 · 支持长时间稳定扫描 | · 原子级台阶成像:观察单晶材料表面原子台阶与晶格结构 · 高质量单晶研究:分析外延薄膜、生长晶体的表面缺陷 · 界面与缺陷研究:研究位错、晶界、台阶边缘等微结构 · 前沿基础研究:用于物理、材料领域的高水平基础研究课题 |
多功能扩展型原子力显微镜(AFM-MF) | 在常规形貌成像基础上,集成多种物理量测试能力,适合多维度材料性能分析。 | · 支持力谱、相位成像等高级模式 · 可扩展电学、磁学、力学相关测试模块 · 模块化设计,便于后期功能升级 软件支持多通道数据同步采集与分析 | · 纳米力学测试:测量聚合物、薄膜材料的弹性模量与黏附力 · 功能材料研究:对复合材料、功能涂层进行多参数分析 · 器件局部分析:研究微纳器件表面不同区域的性能差异 · 交叉学科研究:材料、电子、能源等方向的综合表征实验 |
生物与液体环境原子力显微镜(AFM-Bio) | 专为生物样品和液体环境设计,适合对软物质和活体或准活体样品进行纳米级表征。 | · 支持液体池与液体成像 · 低作用力扫描,减少样品损伤 · 优化的探针控制与反馈系统 · 适合软样品与生物材料 | · 细胞表面形貌观察:分析细胞膜的纳米结构特征 · 生物大分子研究:观察蛋白质、DNA 等生物分子的形态 · 生物膜力学研究:研究生物膜的柔性与力学响应 · 生命科学实验室:用于生物物理、生物材料相关研究 |
教学与基础实验型原子力显微镜(AFM-Edu) | 面向高校教学与基础实验,强调结构直观、操作简便与安全性。 | · 结构简洁、系统稳定 · 操作流程标准化 · 适合重复教学演示 维护成本低 | · 本科与研究生教学:纳米技术、表面科学实验课程 · 基础实验训练:AFM 成像原理与操作方法教学 · 教学演示实验:展示纳米尺度表面形貌特征 · 实验教学中心:长期稳定运行的教学设备配置 |
设备工作原理图

数据图


外观图


Company Address:
Huai'an (Headquarters): No. 7, Meigao Road, Qingpu Industrial Park, Qingjiangpu District, Huai'an City, Jiangsu Province
Suzhou: 4th Floor, Building D, China-Netherlands Innovation Harbor, No. 588 Xiangrong Road, Beihejing Sub-district, Xiangcheng District, Suzhou City, Jiangsu Province
Email:service@abner-nano.com
Contact Number: 13327968688 Mr. Yan

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