一、产品概述
微焦点X射线源 ABN-U180B是一款高精度、高灵敏度的无损分析仪器，专为材料分析与元素检测设计。它采用先进的XRF技术，能够进行快速、精确的元素分析，并能识别多种元素成分。该设备广泛应用于环境监测、矿产资源、金属材料、电子产品等领域，特别适用于高精度的快速检测和质量控制。凭借其非破坏性检测、快速分析能力和高灵敏度，X射线荧光光谱仪为用户提供了可靠的分析结果，适合大批量样品的检测。
二、产品特点
非破坏性分析：XRF技术允许对样品进行无损检测，无需破坏样品即可进行成分分析，这对于珍贵或不可再生样品尤为重要。
快速分析：XRF分析速度快，可以在几分钟内完成样品的全元素分析，适合快速质量控制和现场测试。
广泛的元素检测范围：能够检测从轻元素（如钠、镁）到重元素（如铀）的广泛元素，覆盖周期表中的大部分元素。
高灵敏度和准确度：XRF技术具有高灵敏度，能够检测到极低浓度的元素（ppm级别），并且准确度较高，适合精确分析。
三、技术参数
1、探测器：
分辨率：2048 × 2048 像素（CMOS探测器）
探测面积：4.6 mm × 4.6 mm，适合高分辨率图像分析
探测深度：23.5 mm × 15.0 mm
2、成分分析精度：
分析精度：≤ 2 μm
成分测量精度：0.5%（测试样品的元素浓度精度）
3、扫描速度与分析模式：
扫描速度：2D成像扫描，≤ 1秒/帧（快速扫描模式）
成分分析模式：2D图像分析，快速数据处理，适用于多元素分析
4、样品平台：
最大尺寸：30 mm × 30 mm
支持多种样品尺寸和形态，适应不同材料的检测需求
5、数据输出与格式：
输出格式：支持STF、DICOM、JPEG等文件格式
数据接口：支持USB连接，便于数据传输与存储
6、温度范围：
样品温度范围：-196°C至100°C（适合多种测试环境）
7、设备尺寸与功率：
外形尺寸：650 mm（L）× 400 mm（W）× 550 mm（H）功率：X射线荧光光谱仪具有低功耗设计，最大功率消耗100W 8、安全性
安全设计：符合国际安全标准，配备保护装置，确保操作过程中的人员安全。
四、应用场景与领域
1. 半导体与电子材料中的元素组成与杂质分析；
2. 金属、合金及涂层材料的成分检测；
3. 地质与矿产样品的元素分析；
4. 环境样品中重金属元素检测；
5. 高校教学与科研实验平台建设。
五、典型型号与应用类型
应用类型 | 样品类型 | 分析元素 | 测试内容 | 应用方向 | 备注 |
半导体材料分析 | 晶圆 / 薄膜 | 多元素 | 成分与杂质分析 | 半导体研究 | 非破坏检测 |
金属与合金检测 | 金属样品 | 主要合金元素 | 成分比例分析 | 材料检测 | 快速分析 |
环境样品检测 | 土壤 / 水样 | 重金属元素 | 污染物分析 | 环境监测 | 合规检测 |
教学与科研 | 标准样品 | 多元素 | 元素分析教学 | 高校教学 | 操作直观 |
图为艾博纳x射线荧光光谱仪测试效果
工作原理图
外观图
