CRXK是艾博纳(ABN)公司推出的一款无液氦闭循环低温探针台。该系统兼顾了无液氦操作的便利性和Lake Shore产品卓越的测量性能。它使用独立的闭循环制冷机,开机后可在无人协助的情况下冷却至低温。CRXK多样的选件和配置可使研究者完成精确的、富有挑战性的测量。此款探针台可提供的最低温度为4.5K,探针台内多个温度计的安装可确保准确和重复的测量。双级闭循环制冷机允许样品在冷却过程中保持在较高温度,降低了样品冷凝的可能性,这是测量有机材料的关键要求。CRXK 可定制容纳直径达102 毫米(4 英寸)的晶圆片,并有直径 51 毫米(2 英寸)的探测区域。
一、主要参数及描述
| 温度范围 | |
| 安装2个探针臂 | 基础温度4.5K,控制范围5K~350K |
| 安装4个探针臂 | 基础温度5.5K,控制范围6K~350K |
| 安装6个探针臂 | 基础温度6.0K,控制范围6.5K~350K |
| 按照PS-HTSTAGE选件(与样品背面偏压不兼容) | 基础温度20K,控制范围20K~675K |
| 温度稳定性 | |
| 基础温度(无加热控制) | 未说明 |
| <10K | ±50mk |
| 10K~100K | ±10mk |
| 101K~250K | ±10mk |
| 251K~350K | ±20mk |
| 351K~675K | ±50mk |
| 真空 | 以TPS-FRG分子泵组为标准 |
| 抽真空时间 | 30min(<1x10﹣3Torr) |
| 室温 | <5X10﹣4Torr |
| 基础温度 | <1X10﹣5Torr |
| 最高温度 | <1X10﹣5Torr |
| 循环时间 | |
| 总循环 | 4h |
| 抽真空 | 0.5h |
| 探针台冷却 | 2h |
| 探针台升温 | 1.5h |
| 样品 | |
| 最大尺寸 | 51mm(2英寸) |
| 样品背光接口 | 不可选 |
| 样品旋转 | 不可选 |
| 样品振动 | <1um |
| 探针配置 | |
| 最大探针数 | 6 |
| 探针臂温度计 | 用于监视探针臂的温度 |
| 冷却探针支架 | <20K(样品在基础温度下) |
| 探针支架 | 连接样品台热沉 |
| 探针臂支架 连接防辐射屏热沉 | |
| DC/RF探针 电绝缘>100GΩ用于地漏点测量 | |
| 微波探针 频率范围从DC到67GHz | |
| 光纤探针 可用于电光测量 | |
| 落针范围 所有探针均可在直径为25.4毫米(一英寸)的圆内落针 |
二、应用场景与领域
量子材料与器件:量子点、量子线、超导器件的低温输运与量子特性表征,如超导转变温度、量子隧穿效应测试。
半导体研发:先进制程 MOSFET、FinFET、GaN HEMT 等器件的低温 I-V/C-V、可靠性与失效分析,适配低温高频参数验证。
射频与微波测试:5G / 毫米波芯片、射频前端器件的低温 S 参数(回损 / 插损)、噪声系数测试,保障低温下信号完整性。
光电与新能源:红外探测器、量子点激光器的低温光电响应,有机半导体、钙钛矿材料的低温载流子动力学研究。
学术与前沿研究:高校 / 科研机构的纳米电子学、自旋电子学与二维材料(如石墨烯、MoS₂)低温特性研究。
三、核心功能特点
1.无液氦低温控制:双级 CCR 制冷,4.5K~350K(可选 675K 高温),降温可保持样品高温以抑制冷凝,适配有机材料与敏感器件Lake Shore Cryotronics
2.真空与环境控制:真空度 10⁻⁵Torr,可选环形磁场(0.19T),热辐射屏提升制冷效率,全温区样品振动<1μm(X/Y/Z 轴)
3.精密定位与测量:最多 6 路超稳定微操纵探针臂,3D 定位 + 微波探头 ±5° 旋转,兼容 DC/RF/ 微波 / 光电测量,适配单端 / 差分信号
4.自动化与兼容性:支持无人值守降温与自动校准,可集成源表、示波器、锁相放大器,适配纳米电子、量子器件与射频芯片测试Lake Shore Cryotronics
5.运维与安全:无液氦消耗,热响应快,样品更换便捷,多温度传感器保障测量重复性与稳定性
四、典型型号与应用案例
核心型号
CRXK(标准版):4.5K~350K,6 路探针臂,51mm 探测区,真空 10⁻⁵Torr,适配 2 英寸晶圆。
CRXK-High Temp:扩展高温至 675K,适配宽温区材料热稳定性测试。
CRXK-Magnetic:带 0.19T 环形磁场,适配自旋电子与磁电耦合器件测试。
应用案例
案例 1(量子器件研发):某量子计算实验室用 CRX-4K 测试超导量子比特芯片,在 4.5K 下测量能级跃迁与相干时间,通过无液氦与低振动保障测试稳定性,缩短研发周期 40%。
案例 2(半导体高频测试):某射频芯片厂商用 CRX-4K + 微波探针测试 GaN HEMT,在 77K 下验证噪声系数与功率特性,定位低温下的参数漂移,提升量产良率 25%。
案例 3(二维材料研究):西湖大学用 CRX-4K 表征石墨烯 / BN 异质结的低温输运特性,结合锁相放大器实现高 Z 测量,揭示低温下的电子迁移率变化规律。

Company Address:
Huai'an (Headquarters): No. 7, Meigao Road, Qingpu Industrial Park, Qingjiangpu District, Huai'an City, Jiangsu Province
Suzhou: 4th Floor, Building D, China-Netherlands Innovation Harbor, No. 588 Xiangrong Road, Beihejing Sub-district, Xiangcheng District, Suzhou City, Jiangsu Province
Email:service@abner-nano.com
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