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艾博纳微纳米科技(江苏)有限责任公司

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PS经济型桌面式低温探针台

PS经济型桌面式低温探针台

  • Category:Probe Station / 2D Transfer Station
  • Browse number:
  • QR code:
  • Release time:2026-02-02 19:23:36
  • Product description

一、产品概述

艾博纳(ABN)的PS探针台是一款经济型的多功能型桌面式低温探针台,对资金有限或刚开始进行材料测试的实验室来说是不错的选择。该系统拥有超快的交货周期,且只需要使用真空泵和制冷剂即可开始进行低温实验。PS预配置用于高灵敏、高阻抗的直流测量,使其能够在各种应用中使用。它具有用于四点探测的四臂三同轴TTPX探针台配置,并在 4.2 K 至 475 K 的温度范围内提供高稳定性操作。高精度、微型操作台可确保精确的探针尖端放置,PS-100可容纳直径高达32 mm(1.25英寸)的样品。PS紧凑的桌面设计非常适合学术和实验室研究,它通过使用液氦或液氮的连续流制冷系统提供高效的低温操作。通过配套的Lake Shore 336型控温仪,用户可以在监测探针臂温度的同时独立调节样品台和防辐射屏的温度。 


二、主要参数及描述

安装2个探针臂基础温度4.3K,控制范围4.4K~475K
安装4个探针臂基础温度4.325K,控制范围4.4K~475K
安装PS-LT低温选件基础温度3.2K,控制范围3.3K~475K
温度稳定性液氦             液氮
基础温度(无加热控制)±15mk                         ±20mk
<10k±50mk          ---
10K~100K±50mk          ---
251K~350K±15mk          ±100mk
351K~475K±50mk          ±100mk
真空以TPS-FRG分子泵组为标准
室温<5X10-4Torr
基础温度<1X10﹣5Torr
最高温度<5X10﹣3Torr
循环时间
总循环2h
抽真空
15min
探针台冷却
45min
探针台升温60min
样品
最大尺寸

32mm(1.25英寸)标准

样品背光接口
样品旋转
样品振动<300nm标准,<30nm配有PS-PVIS减震选件
探针配置
最大探针数4
探针臂温度计用于监视探针臂的温度
冷却探针支架<35K(样品在基础温度下)
探针支架连接样品台热沉
探针臂支架连接防辐射屏热沉
DC/RF探针                                   电绝缘>100GΩ用于地漏点测量
微波探针                                    频率范围从DC到67GHz
光纤探针                                    可用于光电测量
落针范围                                    所有探针均可在直径为25.4毫米(一英寸)的圆内落针


三、核心功能特点

经济型低温制冷:连续流制冷兼容液氦 / 液氮,4.2K~475K 宽温区,液氮最低 78K,热沉 + 辐射屏蔽,探针与样品台同温,热负载更低Lake Shore Cryotronics

真空与温控:真空度室温 10⁻⁴Torr、80K 达 10⁻⁵Torr;336 控制器独立控样品台 / 辐射屏,实时监测探针臂温度,保障测试稳定性

精密定位与测量:四臂三同轴 TTPX,四点探测,高精度微操纵台,针尖定位精准;预配置高灵敏高阻抗 DC 测量,适配微纳与量子器件Lake Shore Cryotronics

紧凑与兼容性:桌面式设计,占地小,快速交付(≤1 个月);可集成源表、锁相放大器等,支持现场升级探针臂 / 射频配置Lake Shore Cryotronics

成本与运维:预配置即买即用,仅需外接真空泵与制冷剂,适合预算有限的入门场景,样品更换便捷,测量重复性好Lake Shore Cryotronics


四、应用场景与领域

  1. 材料基础研究:二维材料(石墨烯、MoS₂)、拓扑绝缘体、量子点的低温输运与霍尔效应测量,如迁移率、载流子浓度表征。

  2. 半导体器件研发:纳米 MOSFET、FinFET、GaN HEMT 的低温 I-V/C-V、可靠性测试,适配先进制程器件低温特性验证。

  3. 量子与超导:超导薄膜、约瑟夫森结的转变温度与临界电流测试,量子隧穿、库仑阻塞等低温量子效应研究。

  4. 高校与初创实验室:教学实验、科研项目预研,快速搭建低温测试平台,支持多课题共享,控制初期投入Lake Shore Cryotronics。

  5. 光电与射频:红外探测器、量子点激光器的低温光电响应,射频器件低温噪声与 S 参数测试(可升级射频探针)。



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