微纳材料与器件研究的首要难点，就是在茫茫样品海洋中找到具有研究价值的目标样品，通常的研究手段就是金相显微镜、
AFM或者STM等等。其中STM优点是分辨率高，能够反馈更多微观形貌信息，但缺点是样品制备喷金或者电子束轰击都会对样品产
生损伤；AFM优点是操作便捷，可结合形貌、磁性、电势等多种表面观察，但缺点是探针耗材易损且扫描速度较慢。综合而言，还
是显微镜无损观察最适合样品的初步表征和快速筛选！
E3-iFL明暗场荧光成像显微镜，同时配置明场观察白光LED光源和大功率385/450nm LED荧光成
像专用激发光源，可同时实现明场成像、暗场成像、偏光成像及荧光成像，可有效观察、辨析各类二维材料、量子点、钙钛矿、纳
米线、Micro-LED、长石/云母/石英等矿物及其他微纳材料与器件。最大可观察尺寸为2.23mm*1.24mm（5X物镜下）。滤光片采用了转轮形式安装，方便快速切换成像模式。其中，标配450nm LED荧光成像功能收集光谱范围为500-1000nm，可选择预装
385nm LED。
暗场观察的工作原理：暗场观察是利用中央遮光板或暗场聚光器，常用的是抛物面聚光器，使光源的中央光束被阻挡，仅允许光线倾斜地照射在观察
的样品上，样品遇光发生反射或散射，散射的光线投入物镜内。因此视野中的背景为黑色，能看到的是样品的轮廓，利用这种特殊
的观察手法带来的高对比度，面对样品背景条件不佳的情况可比普通明场能看到更多的样品细节，并清晰分辨样品不同层数的边缘
等。
荧光观察的工作原理：荧光观察是利用一定波长的光(通常是紫外光、蓝紫光)激发显微镜下标本内的荧光物质，使之发射荧光。E3-iEL采用大功率蓝光
LED（450nm/385nm），蓝光通过分束器反射，通过物镜聚焦在样品表面。样品发射的荧光和反射光通过滤光片组后，反射光被滤光片组阻挡，荧光信号进入相机成像。相机采用的是荧光成像制冷显微相机，搭载830万像素高灵敏度CMOS传感器，可做到长
时间曝光，曝光时间10ms—5min，拥有TE冷却结构，工作温度最低-10度。
荧光应用实例：
二硒化钼MoSe2，可清晰观察到样品边缘细节
OLED手机屏幕（熄屏状态）
CdTe碲化镉太阳能电池。（a）标准刻线方案；（b）刻线的扫描电镜；（c）5X物镜下的明场照片；（d）5X物镜下的荧光照片。
利用荧光显微功能可清晰观察分辨出碲化镉电池激光刻线是否均匀、有无损伤，P1处可观察到激发出荧光的CdS/CdTe，P2处对应于金属膜层，P3处对应底层EVA透明胶
偏光观察的工作原理：偏光显微观察可以用于分辨具有双折射性质的样品，即光线通过某一物质时，光的速度、折射率、吸收性和偏振、振幅等因照
射方向而有不同，这种物质在光学上则具有“各向异性”，又称双折射体，如晶体、纤维等。
E3-iFL自带两个偏振镜，一个装在光源与物镜之间的偏振片为“起偏器”，自然光通过偏振片后成为线偏振光，线偏振光的振
动方向与偏振片的偏振化方向一致。另一个装在物镜与目镜之间的偏振片为“检偏器”，用来检验某一束光是否偏振光，偏振光通
过检偏器后，在转动检偏器的过程中，透射光强度发生变化。
偏光应用实例：
OLED屏幕（熄屏状态）。（a）检偏器为350°时；（b）检偏器为260°时。
矿物切片在合适检偏角度下的图片，呈现出绚丽的颜色
样品快速筛查:
通过E3-iFL所集成的明暗场、荧光功能，您可在一台设备上快速完成样品的初步筛查工作，省时高效地挑选出合适的样品。应用实例：
二硫化钼MoS2
二硒化钼MoSe2
产品参数：
*具体参数以报价文件为准
