CM简易探针台

一、产品概述

CM 简易探针台是艾博纳（ABN)为纯手动桌面式设计，整机无复杂电控模块，核心由精密手动探针臂、简易光学对位组件、磁吸 / 真空简易样品台构成，适配≤1 英寸晶圆、裸芯片、微型 PCB（≤50×50mm）、微纳小器件等超小样品，定位精度达 ±5μm，满足基础测试的点位接触需求。设备可直接搭配万用表、简易源表、示波器等常规便携测试仪器，完成导通性、开路 / 短路、直流电阻、基础 I-V 曲线等测试，整机体积小、重量轻、价格低廉，运维无任何耗材，普通桌面、实验台均可直接摆放，无需专业机房与技术人员，是基础测试场景的高性价比选择。

二、设备参数

可选附件

加热台、显示器、转接头、射频测试配件、屏蔽箱、光学平台、镀金卡盘、光电测试配件

三、核心功能特点

超紧凑便携设计：整机尺寸仅 300×280×380mm，净重≤15kg，桌面摆放占地＜0.1㎡，可随手移动、收纳，适配实验室多工位共享与现场快速测试；零门槛手动操作：无电控系统、无软件调试，纯机械手动微调探针臂，旋钮式操作直观易懂，新手无需培训，10 分钟即可掌握基础对位与测试；高性价比低成本整机采购成本为入门级，远低于常规精密探针台，无耗材、无后期运维费用，故障低、易维修，适配预算有限的基础测试场景；基础对位清晰可靠：标配 20~400 倍体视显微镜，视野清晰，可直接观测探针针尖与样品测试点接触状态，满足基础测试的对位需求，无视觉盲区；灵活的样品固定与探针配置：标配磁吸样品台，快速固定小样品，防止滑动；探针臂 2 路标配，可简易扩展至 4 路，兼容通用尖头 / 弹性测试探针，探针更换徒手即可完成；全常规测试外设兼容：无专属配套仪器要求，可直接对接万用表、简易源表、手持示波器、便携电阻仪等常规测试设备，即插即用，适配各类基础电测；坚固耐用适配多场景：机身采用工程塑料 + 金属支架，抗摔、防刮，显微镜带防尘保护罩，可在普通实验室、车间来料检测区、教学实验台等多场景使用；极简扩展能力：可选配真空吸附样品台（适配轻薄易翘曲样品）、4 路探针臂扩展套件、简易防磕碰保护罩，无复杂升级，按需加装即可。

四、应用场景与领域

CM-4 简易探针台聚焦 “基础、简易、快速”** 测试需求，避开高精度、高频、复杂参数测试场景，核心用于基础电性能验证、教学实训、快速初筛，覆盖高校、中小企业、小型实验室等主体，具体应用场景与领域如下：

1. 高校基础教学实训

微电子、电子信息工程、材料科学等专业的本科基础实验教学，如《电子测量技术》《半导体器件基础》课程的实验实训，完成二极管 / 三极管通断与基础 I-V 测试、电阻器阻值测量、微型 PCB 开路 / 短路检测，让学生掌握探针测试的基本原理与操作方法。

2. 中小企业来料 / 样品快速初筛

电子元器件、微型 PCB、小芯片加工企业的来料检测与成品初筛，快速检测来料器件的通断、电阻是否达标，成品微型 PCB 的开路 / 短路缺陷，无需高精度测试，快速筛选合格品，提升来料 / 成品检测效率。

3. 实验室快速验证与预测试

科研实验室、企业研发部的样品快速预测试，对新制备的微纳小器件、新材料样品进行基础电性能验证，快速判断样品是否具备导通性、基础电阻是否符合预期，筛选出合格样品进入后续高精度测试，节省高端测试设备资源。

4. 电子维修店小型器件检测

小型电子维修店对手机、穿戴设备的微型芯片、柔性微板、小型电子元器件的故障检测，快速定位器件开路 / 短路、电阻异常等问题，适配现场快速维修检测，无需专业大型设备。

5. 职业院校技能培训

职业院校电子技术、微电子装配等专业的技能培训，让学生掌握探针台的基本操作、电子元器件基础检测方法，适配职业技能考核与实训，贴合企业一线的基础检测需求。

6. 科研课题前期快速初筛

高校、科研院所的科研课题前期，对大批量候选样品进行基础电性能初筛，快速淘汰不合格样品，仅将少量优质样品送至高端测试平台开展精细表征，大幅降低课题测试成本，提升研发效率。