
一、产品概述
艾博纳 CX闭循环低温探针台 是一款面向低温电学、量子器件、二维材料与半导体器件测试的高性能科研级测试平台。系统采用闭循环制冷(Cryocooler)方案,无需液氦或液氮补给,即可实现稳定、可重复的低温环境,大幅降低长期运行成本并提升实验安全性与便利性。设备将低温真空环境、高精度位移平台、多探针电学测试能力集成于一体,适用于单器件、芯片级及小尺寸晶圆在低温条件下的 I-V、C-V、Hall、脉冲电学及多物理耦合测试,可广泛应用于高校科研院所及先进半导体实验室。
二、产品特点与优势
1. 闭循环低温系统
采用高可靠性闭循环低温制冷机;无液氦/液氮消耗,运行成本低;支持长时间连续低温测试
2. 宽温区精准控温
覆盖从室温至极低温区间;多点温度传感器实时监测;温控稳定性高,温度波动小
3. 高真空低噪声环境
真空腔体一体化设计;有效抑制对流与水汽冷凝;优化的机械与电磁隔离,降低测试噪声
4. 高精度多维探针操控
XYZ(可选 θ)微位移平台;探针定位精度高、重复性好;支持多探针同步测试
5. 强扩展性与兼容性
兼容主流源表、LCR、低噪声放大器;可选光学观察、磁场模块、射频测试接口;支持定制化配置,满足不同研究需求
三、典型应用方向
低温晶体管与器件 I-V / C-V 测试;二维材料(Graphene、TMDs、hBN)低温输运特性研究;量子器件、超导器件电学表征;低温 Hall 测量、磁输运实验;新型半导体材料低温可靠性分析
四、技术参数
| 项目 | 技术指标 |
|---|---|
| 制冷方式 | 闭循环制冷(Closed-Cycle Cryocooler) |
| 温度范围 | ≤ 4 K(典型)~ 300 K |
| 温度稳定性 | ≤ ±10 mK(低温稳态) |
| 冷却时间 | 室温 → 基础温度 ≤ 4–6 小时 |
| 真空度 | ≤ 1 × 10⁻⁵ Torr(典型) |
| 样品台尺寸 | ≤ 10 mm × 10 mm(可定制) |
| 样品温控方式 | 样品台直接控温 + 多点测温 |
| 探针数量 | 4–8 支(可扩展) |
| 探针类型 | DC / RF / 低噪声软针 |
| 位移分辨率 | ≤ 1 µm(XYZ 微调) |
| 光学观察 | 长工作距离显微镜(可选) |
| 电学接口 | BNC / Triax / SMA(按配置) |
| 控制方式 | PC 软件控制 + 手动精调 |
| 工作环境 | 18–28 ℃,≤ 60% RH |
| 供电 | AC 220 V,50 Hz |
五、配置与定制说明
支持 磁场模块(横向 / 纵向) 扩展;支持 射频/高速脉冲测试 升级;支持 晶圆级样品台(2–4 inch) 定制;可对接 Keithley / Keysight / Zurich Instruments 等测试系统

Company Address:
Huai'an (Headquarters): No. 7, Meigao Road, Qingpu Industrial Park, Qingjiangpu District, Huai'an City, Jiangsu Province
Suzhou: 4th Floor, Building D, China-Netherlands Innovation Harbor, No. 588 Xiangrong Road, Beihejing Sub-district, Xiangcheng District, Suzhou City, Jiangsu Province
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