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CX-闭循环低温探针台

CX-闭循环低温探针台

  • Category:Probe Station / 2D Transfer Station
  • Browse number:
  • QR code:
  • Release time:2026-02-02 20:55:42
  • Product description

小型真空高低温探针台-1

一、产品概述


艾博纳 CX闭循环低温探针台 是一款面向低温电学、量子器件、二维材料与半导体器件测试的高性能科研级测试平台。系统采用闭循环制冷(Cryocooler)方案,无需液氦或液氮补给,即可实现稳定、可重复的低温环境,大幅降低长期运行成本并提升实验安全性与便利性。设备将低温真空环境、高精度位移平台、多探针电学测试能力集成于一体,适用于单器件、芯片级及小尺寸晶圆在低温条件下的 I-V、C-V、Hall、脉冲电学及多物理耦合测试,可广泛应用于高校科研院所及先进半导体实验室。


二、产品特点与优势

1. 闭循环低温系统

采用高可靠性闭循环低温制冷机;无液氦/液氮消耗,运行成本低;支持长时间连续低温测试

2. 宽温区精准控温

覆盖从室温至极低温区间;多点温度传感器实时监测;温控稳定性高,温度波动小

3. 高真空低噪声环境

真空腔体一体化设计;有效抑制对流与水汽冷凝;优化的机械与电磁隔离,降低测试噪声

4. 高精度多维探针操控

XYZ(可选 θ)微位移平台;探针定位精度高、重复性好;支持多探针同步测试

5. 强扩展性与兼容性

兼容主流源表、LCR、低噪声放大器;可选光学观察、磁场模块、射频测试接口;支持定制化配置,满足不同研究需求

三、典型应用方向

低温晶体管与器件 I-V / C-V 测试;二维材料(Graphene、TMDs、hBN)低温输运特性研究;量子器件、超导器件电学表征;低温 Hall 测量、磁输运实验;新型半导体材料低温可靠性分析



四、技术参数

项目技术指标
制冷方式闭循环制冷(Closed-Cycle Cryocooler)
温度范围≤ 4 K(典型)~ 300 K
温度稳定性≤ ±10 mK(低温稳态)
冷却时间室温 → 基础温度 ≤ 4–6 小时
真空度≤ 1 × 10⁻⁵ Torr(典型)
样品台尺寸≤ 10 mm × 10 mm(可定制)
样品温控方式样品台直接控温 + 多点测温
探针数量4–8 支(可扩展)
探针类型DC / RF / 低噪声软针
位移分辨率≤ 1 µm(XYZ 微调)
光学观察长工作距离显微镜(可选)
电学接口BNC / Triax / SMA(按配置)
控制方式PC 软件控制 + 手动精调
工作环境18–28 ℃,≤ 60% RH
供电AC 220 V,50 Hz



五、配置与定制说明

支持 磁场模块(横向 / 纵向) 扩展;支持 射频/高速脉冲测试 升级;支持 晶圆级样品台(2–4 inch) 定制;可对接 Keithley / Keysight / Zurich Instruments 等测试系统

Previous:CY系列中端探针台2026-02-02
Next:CR双面探针台2026-02-02

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