
在高端制造、材料研发与精密检测领域,对内部结构的无损观测需求正不断向微米级精度逼近。传统 X 射线源虽能实现基础成像,却常因焦点尺寸大、稳定性不足,难以适配高分辨率、高穿透性的复杂检测场景。艾博纳 150kV 微焦点 X 射线源 UN-U150B 的问世,以 “极致焦点性能 + 智能稳定输出” 的设计理念,为科研与工业用户提供了高效、精准的无损检测解决方案。这款集成化的高端 X 射线源,不仅在射线性能上达到行业顶尖水准,更通过智能化控制与多模态成像功能,让微米级内部探索触手可及。
紧凑集成设计,适配多元场景艾博纳 UN-U150B 的机身尺寸仅为 600×400×500mm,相较于传统大型 X 射线源节省空间约 40%。其模块化结构支持灵活部署 —— 无论是实验室固定工位、产线在线检测台,还是便携式检测场景,都能轻松适配。机身采用高强度铝合金与防辐射材料,兼顾稳定性与安全性,适合长期稳定运行或多场景切换使用。
微焦点电子光学系统:微米级分辨率的精准还原焦点性能是 X 射线源的核心。艾博纳 UN-U150B 搭载高亮度微焦点电子枪,配合精密聚焦透镜与高稳定高压电源,实现5μm 的最小焦点尺寸(150kV)与 **≥1000 小时的焦点寿命 **,可清晰观测微米级内部缺陷、孔隙分布与层间结构。射线输出采用稳定的连续波模式,亮度可连续调节,避免传统 X 射线源对样品的辐照损伤;同时,内置多种滤光片与准直器,支持不同能量、不同分辨率的成像需求,满足金属、复合材料、电子元器件、生物样本等不同样品的检测需求。
一体化成像:从射线输出到分析一步到位作为 “150kV 微焦点 X 射线源”,艾博纳 UN-U150B 集成了高速数据采集卡与高灵敏度平板探测器,支持实时成像与断层扫描(CT)功能。配套的艾博纳智能分析软件提供丰富功能:自动曝光控制、精准测量缺陷尺寸与孔隙率、自动识别裂纹与夹杂、生成三维断层重构图与密度分布图,以及原生支持 DICOM、TIFF 等格式数据导出。用户无需额外购置成像设备或第三方软件,即可完成全流程操作,大幅提升效率。
智能操作:降低门槛,提升效率为简化操作,艾博纳 UN-U150B 配备全自动焦点调节与智能温控系统,支持一键自动聚焦(精度 0.1μm)与全自动剂量控制,避免人工误差。机身正面触控面板可直接调节加速电压、更换滤光片、启动成像,无需依赖复杂的控制台。软件还支持远程控制与数据共享,适合教学演示或团队协作 —— 多名用户可同时查看同一成像结果,实时交流分析结果。
电子制造:元器件内部缺陷的精准检测在半导体与电子制造领域,艾博纳 UN-U150B 可检测 BGA 封装的焊点缺陷、多层 PCB 的层间短路与开路、芯片封装的内部裂纹,为工艺优化提供关键数据。其高分辨率成像能力,可快速定位微米级杂质与虚焊问题,助力产品良率提升。
材料科学:内部结构的深度表征在材料研发领域,艾博纳 UN-U150B 可分析复合材料的纤维分布与孔隙率、金属合金的内部夹杂与裂纹、陶瓷材料的烧结缺陷,为新材料设计提供精准依据。其非接触式检测特性,避免了对 fragile 样品的机械损伤。
航空航天:关键部件的无损评估在航空航天领域,艾博纳 UN-U150B 可检测涡轮叶片的内部缺陷、复合材料蒙皮的分层与孔隙、紧固件的疲劳裂纹,为飞行安全提供可靠保障。其高穿透性与高分辨率,可实现对复杂结构的全方位检测。
文物保护:珍贵文物的内部探秘在文物保护领域,艾博纳 UN-U150B 可对青铜器内部的铸造缺陷、古书画的修复痕迹、古籍纸张的纤维结构进行无损检测,无需接触文物即可获取内部信息,为文物修复与年代鉴定提供科学依据。
艾博纳 150kV 微焦点 X 射线源 UN-U150B 以极致性能、智能稳定、一体化功能,重新定义了高端 X 射线源的应用边界。它不仅解决了传统设备操作复杂、焦点性能不足的痛点,更通过智能化技术降低了微米级无损检测的门槛,让更多用户轻松进入微观内部世界。无论是科研探索、工业质检还是文物保护,艾博纳 UN-U150B 都是可靠的伙伴 —— 在有限空间里,实现无限的内部发现。未来,随着技术迭代,这款系统有望在更多领域发光发热,推动无损检测技术的普及与发展。
艾博纳微纳米科技有限公司是一家位于苏州市相成区(Medpark)和江苏省淮安市的高科技企业,成立于2022年8月。公司专注于高端光学科学仪器和医学成像设备的研发、制造与销售。
其产品涵盖显微成像解决方案、真空与镀膜技术以及光学元件,产品范围从基础光学显微镜到先进的纳米级三维成像显微镜。
公司还致力于新一代人工智能驱动的科学设备研发,聚焦于纳米尺度二维材料电子器件(如石墨烯芯片)的应用研究,并结合诺贝尔奖获奖技术进行创新探索。
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